用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置
授权
摘要
本公开实施例提供的用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该用于测试电子元件或集成电路的烘箱包括机壳、探测装置、以及设置于所述机壳内的放料台；所述探测装置包括探杆和设置于所述探杆上的探测器；所述机壳上设置有第一通孔，所述探杆的一端通过所述第一通孔延伸出所述机壳，所述探测器设置于所述机壳内。本公开实施例提供的用于测试电子元件或集成电路的烘箱实现了电路高温环境下的连续自动测试，无需人工干预，大大提高了高温测试效率；并且由于本公开实施例所使用的执行机构全部在高温烘箱外部，从而不需要耐高温的执行机构，进而降低了成本。
基本信息
专利标题 ：
用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122579531.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
CN216209670U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
白云
申请人 ：
西安云科沃电子科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区锦业四路1号紫薇康馨公寓3-2601
代理机构 ：
重庆青飞知识产权代理有限公司
代理人 ：
阴知见
优先权 ：
CN202122579531.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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