本揭露是关于用于测试集成电路产品的装置。根据本申请一实施例的用于测试集成电路产品的装置可包括输入端口及运动构件。运动构件可与输入端口连接。运动构件可包括第一部分；及第二部分，其与第一部分连接，第一部分经配置以带动第二部分移动，且第二部分经配置以相对于第一部分转动。本揭露提供的用于测试集成电路产品的装置可实现重力斜背式分选机的机台与测试机的测试头的自动对准，不仅提高了生产效率，而且还避免了对测试装置造成损坏。