一种用于集成电路的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于集成电路的测试装置，包括底座，底座上方通过升降组件固定安装有安装底板，安装底板上方通过伸缩杆活动安装有检测上板，安装底板两侧固定安装有支撑架，伸缩杆表面套接有缓冲弹簧，支撑架顶部中心竖直固定安装有第一液压升降缸，第一液压升降缸输出轴端通过探针安装座安装有若干检测探针，检测上板上表面两侧对角线设置有两个夹块，检测上板上表面均与间距铺设有若干真空吸盘，真空吸盘输入端连接有真空泵。本实用新型结构简单合理，大大方便了人们对集成电路进行检测，提升了集成电路的检测效率，且有效提升了集成电路的检测效果。
基本信息
专利标题 ：
一种用于集成电路的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921630999.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-28
授权号 ：
CN211014349U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
李建中夏中宇徐雪舟
申请人 ：
无锡美偌科微电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市无锡新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A栋407室
代理机构 ：
苏州国卓知识产权代理有限公司
代理人 ：
明志会
优先权 ：
CN201921630999.2
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
