一种用于SMT封装产品的集成电路测试模具
授权
摘要

本实用新型公开了测试模具技术领域的一种用于SMT封装产品的集成电路测试模具,旨在解决现有技术中在对集成电路芯片进行FT测试时,多次更换测试板,操作繁琐,测试效率低,增加集成电路芯片的安装损耗的技术问题。绝缘底座上设有通孔,所述通孔的一组相对面分别设有导电组件,所述导电组件中的导电介质的一个端面与所述第一表面齐平,另一个端面伸出所述第二表面;所述第一表面设有多个绝缘压板,所述绝缘压板通过第一螺栓与所述绝缘底座连接,所述第二表面设有多个第二螺纹孔。本实用新型通过设计绝缘底座,测试过程中避免了对集成电路芯片的反复拆装,需要更换测试板时直接更换测试板即可,提高了测试效率,减少了集成电路芯片的安装损耗。

基本信息
专利标题 :
一种用于SMT封装产品的集成电路测试模具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922418834.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-30
授权号 :
CN211528616U
授权日 :
2020-09-18
发明人 :
唐叶
申请人 :
上海翔芯集成电路有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区徐行镇劳动路707弄218号10幢
代理机构 :
上海合进知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王寿刚
优先权 :
CN201922418834.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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