数显功率测试模块、测试仪、测试数据线和老化测试仪
授权
摘要
本实用新型涉及一种数显功率测试模块、测试仪、测试数据线和老化测试仪。数显功率测试模块包括模块电路板、遮罩和盖板，模块电路板上布设有若干LED灯珠，遮罩覆盖于LED灯珠所在区域，遮罩设有与LED灯珠对应的透光槽，透光槽用于透出LED灯珠发出的光线，透光槽按照设定数显形状排列，盖板覆盖于透光槽对应区域；模块电路板上封装有测试电流电压的电路元件；数显功率测试模块作为单独模块封装于外部电路板上或者数显功率测试模块上自带有I/O控制接口。本实用新型通过将功率测试的功能集成到模块单元中，不同测试仪中都采用同样的功率测试模块，针对不同测试仪的设计和生产成本便得到降低，并且体积可以得到缩小，有利于提高产品竞争力。
基本信息
专利标题 ：
数显功率测试模块、测试仪、测试数据线和老化测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121877758.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-10
授权号 ：
CN216209506U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
苏永东
申请人 ：
新嘉数码电子（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区料坑第三工业区卓林兴工业园厂房1栋四层
代理机构 ：
深圳余梅专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
陈余才
优先权 ：
CN202121877758.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/40 G01R21/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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