模块化存储测试仪
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要

本实用新型涉及存储测试仪器,具体是一种模块化存储测试仪,解决了现有存储测试仪存在通用性低、回收复杂等问题,包括上设传感器接口的壳体和壳体内的内部电路,内部电路包含数据采集模块和存储模块,数据采集模块包括FPGA控制电路、信号调理电路、A/D采样电路、FIFO缓存电路,数据采集模块还包括USB主机及接口电路,存储模块为U盘,U盘通过USB接口与USB主机及接口电路相连,壳体上设有FPGA配置接口。本实用新型结构简单、合理,以U盘作为数据存储载体,回收方便,并能将采集到的数据以文件的形式实时存储到U盘当中;能在线更改内部电路的工作参数,避免了大量的重复设计,提高了其针对不同测试要求的通用性。

基本信息
专利标题 :
模块化存储测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720102721.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-30
授权号 :
CN201107049Y
授权日 :
2008-08-27
发明人 :
邸超孙德冲
申请人 :
邸超;孙德冲
申请人地址 :
030051山西省太原市尖草坪区学院路3号中北大学
代理机构 :
山西太原科卫专利事务所
代理人 :
朱源
优先权 :
CN200720102721.9
主分类号 :
G01D11/00
IPC分类号 :
G01D11/00  G01D21/02  G11C7/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D11/00
非专用于特定变量的测量装置的组件
法律状态
2010-02-17 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-08-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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