本实用新型公开了一种集成电路测试仪，涉及集成电路检测设备领域，包括测试仪本体，测试仪本体正面两侧的插线孔处固定连接有矩形罩，矩形罩的顶部开设有矩形开槽，矩形罩的内腔且位于矩形开槽位置处滑动设有挡尘板，矩形罩内腔底端的两侧固定连接有限位滑杆，且两个限位滑杆的顶端分别与挡尘板底端滑动穿插连接，限位滑杆的外部套设有复位弹簧，且复位弹簧的两端分别与矩形罩内腔的底端和挡尘板的底端固定连接。本实用新型利用矩形罩、挡尘板、限位滑杆和复位弹簧的设置，能够在不使用时，对集成电路测试仪上的接线孔进行封闭，从而防止灰尘的进入，同时结构简单，使用便捷，提高了集成电路测试仪的使用寿命，提高对集成电路的测试质量。