通用可编程集成电路及微机测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型提供了一种可编程集成电路与微机系统故障检测仪。属于电子测量设备类。本检测仪主要解决了集成电路和微机系统逻辑测试的一体化；可测Z80-CPU、PIO、及62256、8255等大规模芯片、74及4000系列、多种计算机系系统、40线间通断等。具备高级语言TESTBASIC。其特点是用一个专用微机控制多个具有电源、地线、输入、输出等能力的可编程双向五态门，在程序控制下完成各种测试。用于科研、生产及维修等部门。
基本信息
专利标题 ：
通用可编程集成电路及微机测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN89220019.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1989-11-27
授权号 ：
CN2065766U
授权日 ：
1990-11-14
发明人 ：
田国璋
申请人 ：
田国璋
申请人地址 ：
100080北京市8701信箱
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN89220019.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
1993-03-24 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-05-29 ：
授权
1990-11-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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