微机化数字集成电路功能测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
微机化数字集成电路功能测试仪，其目的在于使用微处理器电路技术测试数字集成电路器件的功能。本测试仪可测试从14到24脚的TTL和CMOS数字集成电路功能的好坏。只需把被测数字集成电路的型号用键盘输入，按一下测试键，即可自动测试，由LED指示器显示好坏。本测试仪中含有固化有300多个测试程序的EPROM27128，且还余有7K的存储量，可供编制新产品的数字集成电路的测试程序，故还有扩展功能的潜力。它具有快速、准确的特点，且成本低，是较理想的数字集成电路测试仪。
基本信息
专利标题 ：
微机化数字集成电路功能测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87211391.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-11-16
授权号 ：
CN2043763U
授权日 ：
1989-08-30
发明人 ：
刘必虎吴迎潮
申请人 ：
华东师范大学
申请人地址 ：
上海市普陀区中山北路3663号
代理机构 ：
华东师范大学专利事务所
代理人 ：
俞允超
优先权 ：
CN87211391.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
1993-03-10 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-06-06 ：
授权
1989-08-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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