便携式数字集成电路测试仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种便携式数字集成电路测试仪,属于元件检测设备技术领域。本实用新型包括箱体,还包括安装在箱体内的电压变换模块、处理器单元、液晶显示屏、第一测试芯片插座、第二测试芯片插座和第三测试芯片插座。本实用新型在使用时:将待测芯片插装在对应的测试芯片插座上,并通过处理器单元判断待测芯片是否好坏,最后将判断结果显示在液晶显示屏上。与现有技术相比:本便携式数字集成电路测试仪能够对SN55182、SN55110、SN55107这三种芯片进行测试判别,能够快速确定测试芯片是否好坏,具有芯片故障排除效率高,结构简单,方便携带的有益效果。

基本信息
专利标题 :
便携式数字集成电路测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021560240.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN212965289U
授权日 :
2021-04-13
发明人 :
韦运碧蒋伟程小会刘捷黄河蒙善生
申请人 :
韦运碧
申请人地址 :
广西壮族自治区南宁市江南区友谊路90号
代理机构 :
南宁市吉昌知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
林鹏
优先权 :
CN202021560240.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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