厚膜混合集成电路测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型是一种厚膜混合集成电路测试装置。采用直流电压方式。提供一个稳定的直流电压和一个可调稳定直流电流以及一个可调负载电阻。通过分别独立的插座。加在被测厚膜混合集成电路的相应引出端进行静态测试。克服现有技术中采用实际应用线路模拟测试的缺点。具有测试简单、迅速、准确、稳定通用性强等特点。实现用简单电路对所有的厚膜电路的测试。
基本信息
专利标题 ：
厚膜混合集成电路测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91210479.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-04-16
授权号 ：
CN2098041U
授权日 ：
1992-03-04
发明人 ：
董晓文张秋萍
申请人 ：
董晓文;张秋萍
申请人地址 ：
118002辽宁省丹东市桃源街424号
代理机构 ：
丹东市专利事务所
代理人 ：
刘敏
优先权 ：
CN91210479.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
1995-06-14 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-10-21 ：
授权
1992-03-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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