数字集成电路测试仪器及测试探头
专利申请的视为撤回
摘要
一种利用数字集成电路的逻辑状态图和真值表来观察判断其功能的在线、离线测试仪器，逻辑状态图是三态实时显示的，可测TTL和各种电源电压的CMOS电路，可以对动态运行的电路实行瞬态锁定，还能对被测IC进行多点同时双向多重强迫驱动，有八种触发驱动信号，可实现多种组合，使被测IC进入任意工作状态。又能用同型号的IC进行逻辑比较，同时进行逻辑状态的观察和驱动，还能进行三态离线测试。附有能观察瞬变现象声光显示的逻辑探头。
基本信息
专利标题 ：
数字集成电路测试仪器及测试探头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1084280A
申请号 ：
CN92108282.7
公开（公告）日 ：
1994-03-23
申请日 ：
1992-09-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈孝一余元忠
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
610064四川省成都市九眼桥四川大学
代理机构 ：
四川大学专利事务所
代理人 ：
韩运浦
优先权 ：
CN92108282.7
主分类号 ：
G01R31/318
IPC分类号 ：
G01R31/318
法律状态
1998-09-09 ：
专利申请的视为撤回
1996-01-10 ：
实质审查请求的生效
1994-06-01 ：
著录项目变更
变更事项 : 发明人
变更前 : 陈孝一;余之忠
变更后 : 陈孝一
变更前 : 陈孝一;余之忠
变更后 : 陈孝一
1994-03-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1084280A.PDF
PDF下载
