一种用于集成电路测试的仪器
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摘要
本实用新型公开了一种用于集成电路测试的仪器，属于集成电路领域，包括横板A，所述横板A底部固定连接有多个立柱，所述立柱底部固定连接有横板B，所述横板B表面开设有开槽A，所述开槽A底部开设有开槽B，所述开槽B内部滑动连接有滑块，所述滑块顶部固定连接有横块，所述横块表面开设有孔洞A，可将集成电路放置到横板B表面开设的开槽A中，横块通过底部固定连接的滑块在开槽A底部开设的开槽B中进行滑动，继而两个横块对集成电路进行挤压固定，横块通过表面开设的孔洞A与横板B表面开设的孔洞B进行对齐，在其中螺紧螺栓B，集成电路测试的仪器其进行使用时具有一个对齐集成电路进行有效多方位固定检测的装置，从而提高了整体的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于集成电路测试的仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022120308.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-24
授权号 ：
CN213149172U
授权日 ：
2021-05-07
发明人 ：
夏宇
申请人 ：
泓准达电子科技（常州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市武进国家高新技术产业开发区西湖路8号津通国际工业园1号楼C区
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
尚欣
优先权 ：
CN202022120308.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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