本发明提供了一种数字集成电路测试系统，包括：电路数据获取模块：用于通过预设检测设备实时采集数字集成电路的运行数据；测试仿真模块：用于获取数字集成电路的电路图，并进行仿真测试，确定仿真运行数据；数据分析模块：将所述仿真运行数据和运行数据进行对比，判断是否存在数据偏差；结果反馈模块：用于在存在数据偏差时，判断数据偏差是否合理，当数据偏差超过偏差阈值，对所述运行数据位置进行分析，并确定电路异常，本发明可以对数字集成电路进行多项测试，并且可以对测试结果进行调取的解决方案，给工作人员作为参考。