一种数字集成电路芯片辅助测试系统

授权

摘要

本发明公开了数字集成电路芯片检测技术领域的一种数字集成电路芯片辅助测试系统，包括检测单元、外显示单元、对比单元和存储单元；所述检测单元，用于对待测文件的暂存和转运工作，且所述检测单元通过外设接口连接待测芯片单元，用于对待测芯片中的待测文件的输出并在所述对比单元中进行文件对比分析；所述外显示单元，用于显示对比分析结果，且用于进行错误文件的删除和重新添加；所述存储单元，用于存储必要的文件单元，所述存储单元包括错误文件存储单元和重置文件存储单元，所述错误文件存储单元用于存储各种错误文件，本发明通过对数字集成电路芯片的检测和修复一体化，可以便于实现对于集成电路芯片的快速检修工作。

基本信息

专利标题：

一种数字集成电路芯片辅助测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111208407A

申请号：

CN201811394225.4

公开（公告）日：

2020-05-29

申请日：

2018-11-21

授权号：

CN111208407B

授权日：

2022-05-31

发明人：

杨晶晶

申请人：

上海春尚电子科技有限公司

申请人地址：

上海市崇明区横沙乡富民支路58号A1-2779室（上海横泰经济开发区）

代理机构：

上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

邓文武

优先权：

CN201811394225.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28