一种数字芯片测试机

授权

摘要

本实用新型公布了一种数字芯片测试机，它包括插座主体和测试针座，其中插座主体顶面向下设置支撑槽体，在支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，在阶梯槽沿长度方向开设插口槽，插口槽内沿侧壁方向向外延伸右弹性件，右弹性件用于接触芯片管脚的一端面；其中测试针座包括与阶梯槽配合的盖板和设置在盖板上的测试探针，盖板上具有与插口槽相适配的通孔，测试探针活动的配设在通孔上，通过一端穿过通孔伸入插口槽在伸入段配设与右弹性件相对设置的左弹性件，右弹性件和左弹性件形成装夹芯片管脚的弹性体；测试探针的另一端通过导线分别连接测试模块，本实用新型提出一种数字芯片测试机，旨在提高测试机的使用寿命，保证测试机的可持续精准测试。

基本信息

专利标题：

一种数字芯片测试机

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020577865.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-17

授权号：

CN212160006U

授权日：

2020-12-15

发明人：

黄辉

申请人：

深圳市芯片测试技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020577865.5

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28