一种用于数字隔离芯片的测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种用于数字隔离芯片的测试系统，其中，包括：电源转换装置，用于将初级电源回路中的电网电压进行处理得到次级电源回路所需的测试电压；漏电信号测试装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测次级电源回路中在测试电压升高时的漏电流值；局部放电信号测试装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测次级电源回路中在测试电压升高时的放电信号；脉冲校准装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于发出脉冲信号进行校准。本实用新型提供的用于数字隔离芯片的测试系统能够实现对数字隔离芯片局部放电电荷量和隔离电压的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种用于数字隔离芯片的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122467711.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-13
授权号 ：
CN216209662U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
林希黄飞明黄昊丹王俊云孟明宇
申请人 ：
无锡硅动力微电子股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区珠江路51号
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹祖良
优先权 ：
CN202122467711.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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