本实用新型公开了一种便于检修的集成电路测试仪，包括放置板和测试仪本体，所述放置板内表面的左右两侧均开设有通槽，所述通槽内壁的外侧固定连接有弹簧，所述通槽内壁的内侧固定连接有固定块，所述测试仪本体底部的左右两侧均固定连接有卡块。本实用新型通过将固定螺栓转动至不再与螺杆螺纹连接后，将螺杆取出，向上移动测试仪本体，测试仪本体带动卡块向上移动，直至卡块不再与通槽的内腔接触，完成对测试仪本体的拆卸，通过打开箱门将继电器矩阵板抽出，使继电器矩阵板不再卡接于卡槽的内腔中，完成对继电器矩阵板的拆卸，达到方便检修的目的，解决了现有的集成电路测试仪在使用时检修并不方便，从而不便于人们使用的问题。