一种IC集成电路芯片的测试仪

授权

摘要

本实用新型公开了一种IC集成电路芯片的测试仪，包括测试仪外壳，所述测试仪外壳的下表面靠近四周边角位置均固定安装有橡胶支撑垫，且测试仪外壳的顶部嵌设有显示屏，所述测试仪外壳的上表面靠近一侧位置设有芯片插槽，且测试仪外壳的上表面靠近另一侧位置设有多个功能按键，所述测试仪外壳的上表面靠近中间位置设有指示灯，所述芯片插槽的一侧外表面连接有固定杆，所述测试仪外壳的顶部连接有清洁装置，且测试仪外壳的后表面靠近一侧位置开设有电源接口，所述测试仪外壳的后表面靠近另一侧位置设有开关按钮。本实用新型所述的一种IC集成电路芯片的测试仪，能够保证测试仪显示屏表面的清洁，且能够方便将测试仪提起。

基本信息

专利标题：

一种IC集成电路芯片的测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020797281.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-05-14

授权号：

CN212255390U

授权日：

2020-12-29

发明人：

杨凯翔

申请人：

广东万维半导体技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区布吉街道文景社区储运路46号宝安外贸保税仓综合楼208

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202020797281.9

主分类号：

G01R1/02

IPC分类号：

G01R1/02