一种射频集成电路测试装置及测试平台
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种射频集成电路测试装置及测试平台,属于集成电路测试技术领域。一种射频集成电路测试装置,矢量调制解调模块用于生成第一基带信号,将第一基带信号传输给射频发射调理模块;射频发射调理模块用于根据矢量调制解调模块发送的第一基带信号生成第一矢量信号,通过开关矩阵模块将第一矢量信号传输给待测器件;射频接收调理模块用于通过开关矩阵模块接收待测器件基于第一矢量信号返回的第二矢量信号,将第二矢量信号解调得到第二基带信号,将第二基带信号传输给矢量调制解调模块;矢量调制解调模块还用于根据第一基带信号和第二基带信号得到待测器件的测试结果,可一次测试多种射频参数,不需要频繁更换测试仪器,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种射频集成电路测试装置及测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280462A
申请号 :
CN202111654917.X
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯建呈郑永丰闵昆龙杨旸闫丽琴李明军刘延迪刘治超张少帅张洋白晓远王奇之孟旭王梦琪李广振王占选
申请人 :
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 :
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202111654917.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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