集成电路测试用操作的检测平台
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试用操作的检测平台,涉及集成电路检测技术领域。该集成电路测试用操作的检测平台,包括箱体,所述箱体顶部通过螺栓安装有操作平台,操作平台的顶部两侧通过螺栓固定安装有第一侧板和第二侧板,第一侧板靠近第二侧板的一侧固定安装有导向杆,导向杆的自由端与第二侧板的一侧固定连接,第一侧板的一侧转动安装有螺纹杆的一端,螺纹杆的另一端与第二侧板的一侧转动连接,螺纹杆上螺纹连接有螺纹滑块,导向杆横向贯穿螺纹滑块设置,螺纹滑块与导向杆滑动配合设置。本实用新型结构简单,能够对检测仪器进行位置调节,不会占用工作位置,从而有利于提高工作人员的工作效率。
基本信息
专利标题 :
集成电路测试用操作的检测平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920989630.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-27
授权号 :
CN210923888U
授权日 :
2020-07-03
发明人 :
李子考凡永亮
申请人 :
盐城华昱光电技术有限公司
申请人地址 :
江苏省盐城市盐都区盐龙街道办事处纬八路与秦川路交汇处(D)
代理机构 :
北京华际知识产权代理有限公司
代理人 :
范登峰
优先权 :
CN201920989630.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 B01L9/02 F21V33/00 B25H1/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20190627
授权公告日 : 20200703
终止日期 : 20210627
申请日 : 20190627
授权公告日 : 20200703
终止日期 : 20210627
2020-07-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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