射频测试和校准装置
授权
摘要

本实用新型适用于电路板测试技术领域,提供了一种射频测试和校准装置,该射频测试和校准装置包括第一测试点,与所述射频链路的第一端连接;第二测试点,与所述射频链路的第二端连接,且与所述第一测试点相间隔;以及至少一个接地焊盘;该射频测试和校准装置允许通过第一测试点和第二测试点分别对射频链路的不同端进行测试和/或校准,并且,在完成测试后通过将第一测试点和第二测试点短接即可使得射频链路形成通路以正常工作,无需使用连接座,节省物料成本,操作可以更简便。

基本信息
专利标题 :
射频测试和校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020103303.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-16
授权号 :
CN211741499U
授权日 :
2020-10-23
发明人 :
陈晓菡
申请人 :
普联技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区深南路科技园工业厂房24栋南段1层、3-5层、28栋北段1-4层
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
王善娜
优先权 :
CN202020103303.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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