射频探针校准装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种射频探针校准装置,用于对第一探针单元及第二探针单元进行校准测试,包括架体、校准PCB板、定位载板及移动组件,移动组件及定位载板设置在架体内,且定位载板位于移动组件的下方,校准PCB板固定在定位载板上,且校准PCB板上设置有至少一个位于上表面的第一射频信号测试点以及至少一个位于下表面的第二射频信号测试点,第一射频信号测试点与第二射频信号测试点电连通,第一探针单元位于移动组件上,移动组件能够相对架体沿竖向移动并带动第一探针单元下移以与第一射频信号测试点接触,第二探针单元由下往上贯穿定位载板后与第二射频信号测试点接触。本发明解决了针对5G板端射频连接器开发的探针单元难以校准的问题。
基本信息
专利标题 :
射频探针校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509715A
申请号 :
CN202210089154.7
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-01-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈浩
申请人 :
上海特斯汀电子科技有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区汇旺东路599号6栋607
代理机构 :
上海思捷知识产权代理有限公司
代理人 :
黄一磊
优先权 :
CN202210089154.7
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00 G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20220125
申请日 : 20220125
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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