用于无射频测试座的射频信号测试探针

授权

摘要

本实用新型所提出的一种用于无射频测试座的射频信号测试探针，包括针管套，针管套形成的通道中容置有测试探针，测试探针的尾端连接有连接线，测试探针的首端设置有内弧面，内弧面与天线弹片进行接触连接；因为应用在无测试座的射频信号测试中，所以优选选择的测试点位是在天线弹片上，而在天线弹片的设计中，会设计有一个凸起结构，现有技术中的测试探针在接触天线弹片进行测试时，会出现接触不稳定的情况，而采用本实用中的探针，利用内弧面和天线弹片进行稳定接触，就算有小幅度的晃动也不会出现接触不良的情况，能够非常好的适用无射频测试座的测试。

基本信息

专利标题：

用于无射频测试座的射频信号测试探针

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022171540.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-28

授权号：

CN213023250U

授权日：

2021-04-20

发明人：

刘好唐锡辉左达恒

申请人：

深圳合一测试科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区新桥街道新桥社区新和大道8号A栋405

代理机构：

深圳市深弘广联知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

易涵冰

优先权：

CN202022171540.X

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067