射频同轴连接器信号测试连接装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种射频同轴连接器信号测试连接装置,包括安装块、探针组a和探针组b和射频电缆,所述安装块上加工有两个通孔用以分别压装探针组a和探针组b,所述射频电缆包括射频线缆和射频同轴连接器,射频同轴连接器焊接在射频线缆的一端,所述射频线缆另一端的线芯与探针组a连接,另一端的屏蔽层与探针组b连接。本实用新型克服了现有技术方案存在的或效率低下、或性能不稳、或成本高昂等缺点,由于探针的特性,使得连接可自动化进行,测试效率得到保障;由于探针直接探接射频同轴连接器的管脚,稳定可靠,测试性能得到保障;由于普通探针组价格相当低廉,从而极大的降低了成本,并且制作简单、安装方便。

基本信息
专利标题 :
射频同轴连接器信号测试连接装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820095616.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-07-14
授权号 :
CN201242552Y
授权日 :
2009-05-20
发明人 :
张拖
申请人 :
中兴通讯股份有限公司
申请人地址 :
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座6层
代理机构 :
深圳市永杰专利商标事务所
代理人 :
刘 敏
优先权 :
CN200820095616.1
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2018-08-07 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 1/02
申请日 : 20080714
授权公告日 : 20090520
2009-05-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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