一种测试用精密射频同轴连接器
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摘要

本实用新型公开了一种测试用精密射频同轴连接器,涉及射频同轴连接器技术领域,包括外壳和设置在外壳端部和外壳一体成型的转接头,所述外壳和转接头的内部设置有内导体,外壳和转接头的内部开设有一凹槽,凹槽的内部固设有一压圈,压圈和内导体之间设置有绝缘子,绝缘子的下端嵌设在开设于压圈表面的容槽内,绝缘子的上端和内导体抵接,位于外壳的表面设置有螺母,外壳表面上位于螺母靠近转接头的一端还设置有内齿垫圈,本实用新型通过在外壳和转接头的内部开设有一凹槽,并在凹槽内部设置有压圈,将绝缘的和压圈通过嵌装的方式固定,因此,绝缘子能够得到很好的固定,同时,内导体在测试时也不会发生窜动,保证测试结果的准确度。

基本信息
专利标题 :
一种测试用精密射频同轴连接器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020703835.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-30
授权号 :
CN211879720U
授权日 :
2020-11-06
发明人 :
代文鹏戴国俊
申请人 :
江苏正迪微波技术有限公司
申请人地址 :
江苏省镇江市京口区潘宗路鑫鼎茂工业园5号楼5层
代理机构 :
南京创略知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘文艳
优先权 :
CN202020703835.4
主分类号 :
H01R24/40
IPC分类号 :
H01R24/40  H01R13/502  H01R13/639  
法律状态
2020-11-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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