射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法，是将两个连接器(6)的输出端互相对接，并在对接处夹有导电锡纸(3)。两个连接器(6)由固定板(4)和螺栓(5)紧固。该测试方法按开路校准、短路校准、校“0”的测试步骤进行。该测试方法可准确测出单个射频同轴微带连接器的电压驻波比和插入损耗。
基本信息
专利标题 ：
射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101025428A
申请号 ：
CN200610041798.X
公开（公告）日 ：
2007-08-29
申请日 ：
2006-02-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张志谦
申请人 ：
西安科耐特科技有限责任公司
申请人地址 ：
710065陕西省西安市电子城西部电子社区CNT楼
代理机构 ：
西安文盛专利代理有限公司
代理人 ：
吕宏
优先权 ：
CN200610041798.X
主分类号 ：
G01R27/04
IPC分类号 ：
G01R27/04 G01R27/06 G01R27/32 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/04
在具有分布常数的电路中的测量
法律状态
2009-09-23 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-10-24 ：
实质审查的生效
2007-08-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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