一种射频同轴连接器测试方法
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摘要

本发明公开了一种射频同轴连接器测试方法,涉及射频同轴连接器技术领域,为解决现有的射频同轴连接器,在进行测试时,其测试结构单一,使得测试不准,产品质量下降的问题。包括如下步骤:步骤1:先将射频同轴连接器的测试装置选取平整且干燥的地方进行放置,利用支撑架进行调整支撑;步骤2:再通过PLC控制器,调整合适的参数,使得反磁场干扰器开始运转,降低周围的电磁影响;步骤3:将需要测试的射频同轴连接器,分别套在多个连接套上,同时第二电源器驱动磁吸器运转,使得射频同轴连接器吸附在多个连接套上。

基本信息
专利标题 :
一种射频同轴连接器测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113275267A
申请号 :
CN202110602852.8
公开(公告)日 :
2021-08-20
申请日 :
2021-05-31
授权号 :
CN113275267B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
喻庆东
申请人 :
苏州东辉精密机械有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区太平镇陈庄村
代理机构 :
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
潘志渊
优先权 :
CN202110602852.8
主分类号 :
B07C5/34
IPC分类号 :
B07C5/34  B07C5/344  B07C5/36  B07C5/02  G05B19/05  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B07
将固体从固体中分离;分选
B07C
邮件分拣;单件物品的分选,或适于一件一件地分选的散装材料的分选,如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选,例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制;用手动装置,例如开关,来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-09-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B07C 5/34
申请日 : 20210531
2021-08-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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