本发明涉及一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法，包括近场探头，还包括电磁屏蔽壳体、被测电路安装台，电磁屏蔽壳体为矩形空腔结构，由顶盖开合，在电磁屏蔽壳体的侧面，分别设有电源线孔和信号线孔，在电磁屏蔽壳体顶盖中心处设有探头线缆孔；近场探头垂直的固定在顶盖内面探头线缆孔的下方，用以接收或者发射电磁干扰信号。测试集成电路近场发射电磁干扰，得到被测射频集成电路对外辐射电磁干扰的干扰范围和强度；测试射频集成电路近场电磁敏感性，得到被测射频集成电路的受干扰范围与敏感性阈值。本发明可用于射频集成电路的近场发射电磁干扰和近场电磁敏感性测试。