本实用新型属于芯片领域，具体的说是一种芯片测试检测设备，包括外壳，所述外壳的内部固定安装有检测机构，所述检测机构包括支撑板，所述支撑板的内部固定安装有滑轨；通过操作机构、电动升降套杆、外框、驱动电机、转轴、旋转台和放置盒的配合安装，实现了便于对芯片升降和旋转的功能，在使用过程中，可通过向上拉动电动升降套杆带动外框进行升降，使得外框上方的芯片进行升降，使得该芯片能够贴合检测扫描头，能够更好的对芯片进行扫描，然后在检测时，可通过驱动电机带动转轴产生的电流，对旋转台进行旋转，使得放置在旋转台上的芯片进行旋转，从而达到调整角度的目的，而该检测扫描头能够扫描到芯片的边角，提高了检测设备的使用效率。