智能芯片检测设备
授权
摘要

本实用新型公开了智能芯片检测设备,包括底座,所述底座的顶部外壁中部通过螺钉固定有检测台,且检测台的顶部外壁通过螺钉固定有导轨,所述导轨的内壁滑动连接有移动台,且移动台的顶部外壁通过螺钉固定有气泵,所述气泵的吸气端插接有吸盘,所述导轨的一侧内壁开有丝杠安装孔,且丝杠安装孔的内壁通过轴承连接有丝杠,所述导轨的一侧外壁通过螺钉固定有驱动电机,且驱动电机的输出轴通过联轴器固定于丝杠的一端外壁。本实用新型便于取放芯片,提高了操作便捷度和降低了工作人员的工作量,有助于提高工作效率,可以缓冲减小芯片受到的撞击力,有助于提高对芯片的保护效果,可以提高芯片的稳定性,有助于提高检测数据的准确性。

基本信息
专利标题 :
智能芯片检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921237949.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-02
授权号 :
CN210572607U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
汤碧蒋小杰
申请人 :
湖南握瑜科技有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市长沙县黄花镇机场口社区长沙黄花综合保税区标准厂房1号栋三楼
代理机构 :
长沙中海宏图专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
夏轩
优先权 :
CN201921237949.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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