芯片检测设备

授权

摘要

本实用新型提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测技术领域，所述芯片检测设备包括：滑轨结构、抽取装置、运输装置和图像采集检测装置；所述抽取装置用于将弹夹内的芯片载板抽出并放置在滑轨结构上；所述运输装置用于将所述滑轨结构上的芯片载板运输到检测位置，或者将检测位置的芯片载板从检测位置移出；所述图像采集检测装置位于所述检测位置的上方，用于采集芯片载板上芯片的图像，并将所述图像与标准图像进行比较，从而获取芯片载板上芯片的缺陷。

基本信息

专利标题：

芯片检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021986574.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-11

授权号：

CN212341037U

授权日：

2021-01-12

发明人：

李英坤赵鑫张太鹏陈龙姜豪刘风雷

申请人：

浙江水晶光电科技股份有限公司

申请人地址：

浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号（洪家后高桥村）

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

孙海杰

优先权：

CN202021986574.8

主分类号：

G01N21/892

IPC分类号：

G01N21/892