本申请公开了一种LED芯片检测装置及设备，该装置包括沿一轴线的延伸方向依次布置的多个检测系统，每个检测系统均包括多个发光装置和摄像机，多个发光装置分设于一环形线上，且环形线的中心为轴线上的一点；各检测系统中发光装置所对应环形线的中心在轴线的位置不同；所有检测系统中的发光装置共同围成一光照腔；不同检测系统中的发光装置的出射光束光轴与轴线之间的角度不同，且每个发光装置的出射光束均射向光照腔；在LED芯片放置于光照腔且各发光装置工作时，各检测系统中的摄像机采集LED芯片图像。利用该装置对LED芯片进行检测时，不需转动LED芯片，即可使发光装置以不同的入射角度照射LED芯片，从而在不同角度对LED芯片进行检测。