芯片检测装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型涉及一种芯片检测装置，包括主机、由导线连接至主机的测试元件以及同主机导线连接的至少一个显示元件，该显示元件设置在测试元件上。当芯片检测装置检测芯片时，可通过观察设置在测试元件上的显示元件来判断芯片的性能，使得操作者能够方便准确地对芯片执行检测操作。
基本信息
专利标题 ：
芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620058930.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-05-10
授权号 ：
CN2903999Y
授权日 ：
2007-05-23
发明人 ：
林东宁张强
申请人 ：
珠海天威技术开发有限公司
申请人地址 ：
519060广东省珠海市南屏坪岚路2号南屏企业集团大厦5楼
代理机构 ：
珠海智专专利商标代理有限公司
代理人 ：
吴志鸿
优先权 ：
CN200620058930.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2009-07-08 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-05-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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