芯片检测装置
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片检测装置，包括：至少一个检测头和检测主机，所述检测头，包括多个探针和通信接口，所述探针用于与被检测芯片的端子接触以使所述探针与所述被检测芯片通信连接；所述通信接口与所述探针连接，所述通信接口用于实现所述检测头与检测主机的通信；所述检测主机包括多个功能检测电路和选择电路，所述选择电路用于选择所需的功能检测电路与检测头通信，以使所述检测主机通过检测头对芯片执行相应的性能检测。本实用新型芯片检测装置采用若干个功能检测电路与选择电路相配合的方式，选择电路依据检测需求选择相应的功能检测电路，从而对芯片的不同功能实现检测。
基本信息
专利标题 ：
芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922353851.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-23
授权号 ：
CN211426703U
授权日 ：
2020-09-04
发明人 ：
李桂萍周维孙学进
申请人 ：
珠海艾派克微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市香洲区广湾街83号01栋
代理机构 ：
北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈晓瑜
优先权 ：
CN201922353851.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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