芯片电阻检测装置和芯片器件

授权

摘要

本实用新型涉及一种芯片电阻检测装置和芯片器件，该装置包括电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路：电流产生电路用于连接外接电阻，产生基准电流；基准电流为被测芯片器件的带隙参考电压与外接电阻的阻值之比。电压比较电路电流输入端连接电流产生电路的电流输出端，用于产生与基准电流对应的测试电压，并输出测试电压与带隙参考电压的比较结果。输出转换电路输入端连接电压比较电路的输出端，用于将比较结果转为数字信号输出至芯片器件的数字电路。通过电流产生电路、电压比较电路和输出转换电路的设计，内部电阻检测过程通过外接电阻产生基准电流，检测过程无需引入芯片器件内部的参考时钟与寄存器电路，达到大幅降低检测功耗的目的。

基本信息

专利标题：

芯片电阻检测装置和芯片器件

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020668070.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-27

授权号：

CN212321726U

授权日：

2021-01-08

发明人：

彭振宇韩智毅

申请人：

广东华芯微特集成电路有限公司

申请人地址：

广东省佛山市顺德区北滘镇设计城居委会三乐路北1号设计城二期西座3楼303A室

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人：

陈金普

优先权：

CN202020668070.5

主分类号：

G01R27/08

IPC分类号：

G01R27/08 G01R31/28