一种芯片检测设备
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片检测设备，涉及光电技术领域，包括：支撑件、图像采集器和承载装置；在承载装置上设置有用于承载待检测芯片的检测工位，支撑件一端设置于承载装置上、另一端设置有图像采集器；图像采集器的采集端与检测工位对应，用于对检测工位的待检测芯片进行图像采集。使得芯片检测设备能够对芯片进行快速且全方面的表面缺陷检测，利用图像采集器以图像信息进行检测的方式有效的提高了整个检测过程的效率，降低了检测时间。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021909611.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-03
授权号 ：
CN212321471U
授权日 ：
2021-01-08
发明人 ：
赵鑫李英坤姜豪刘风雷
申请人 ：
浙江水晶光电科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号（洪家后高桥村）
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张洋
优先权 ：
CN202021909611.5
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956 G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2021-01-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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