本实用新型公开了一种芯片检测设备，用于方便实现对芯片的多种测试操作。该芯片检测设备包括机架、驱动电机、转盘、测试载具、和至少两个检测工位。驱动电机设置在机架上，驱动电机的输出轴和转盘的下端面固定连接。测试载具设置在转盘的上端面上，测试载具设有安装位，安装位用于放置待测试的芯片，芯片和测试载具可随着转盘的转动而转动。检测工位沿目标移动轨迹设置在机架上，检测工位分别用于对芯片进行不同的测试操作，目标移动轨迹为当驱动电机驱动转盘转动时，随着转盘转动的安装位的移动轨迹，目标移动轨迹为圆形轨迹。这样，驱动电机转动输出轴即可实现在不同检测工位对芯片进行不同的测试操作，方便地实现了对芯片的多种测试操作。