智能芯片整体检测设备
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摘要

本实用新型涉及芯片检测的技术领域,特别是涉及一种智能芯片整体检测设备,其通过输送辊与输送带配合,便于自动输送智能芯片进行检测作业,提高使用便利性;包括支撑架、输送架、支撑连接片、减速机、输送电机、输送辊、输送带、检测支架、检测数据处理器、导线和检测探测器,输送架下端左右两侧对称安装有两组支撑连接片,输送架下端左右两侧通过两组支撑连接片固定安装在支撑架上端,减速机后端与输送架前端右侧连接,输送电机输出端与减速机左端输入端连接,输送辊输入端与减速机输出端连接,并且输送辊可转动设置在输送架右端,输送带环绕设置在输送辊圆周外侧,检测支架下端与输送架上端连接,检测数据处理器固定安装在检测支架上端中部。

基本信息
专利标题 :
智能芯片整体检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021923687.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-03
授权号 :
CN213457235U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
陈伟赵荣荣
申请人 :
苏州思美得电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区双泾街59号
代理机构 :
苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈蜜
优先权 :
CN202021923687.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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