本实用新型涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种智能芯片尺寸检测设备，其通过设置，省去人工测量，可提高测量速率，同时提高测量的精准度；包括底座、检测箱、计时器、芯片感应扫描头、固定块、四组T型滑块、电动推杆和L型固定板，底座顶端和检测箱底端固定连接，计时器位于底座内，并且通过调节装置和底座连接，芯片感应扫描头顶端和计时器底端连接，芯片感应扫描头和计时器电连接，固定块底端和底座顶端接触，固定块顶端设有凹槽，T型滑块顶端和固定块底端固定连接，底座顶端设有滑槽，T型滑块可在滑槽内左右滑动，固定块右端和电动推杆的输出端连接，电动推杆通过L型固定板固定安装在检测箱右侧内壁。