一种芯片功耗测试电路
授权
摘要
本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，涉及一种芯片功耗测试电路，包括电压检测单元和高低电流检测单元以及功耗统计单元,电压检测单元和高低电流检测单元均与功耗统计单元连接；功耗统计单元与显示单元连接；使用电压检测单元检测待检测芯片的工作电压，高低电流检测单元检测待检测芯片的工作电流，以及使用功耗统计单元根据工作电压和工作电流统计出待检测芯片的功耗，还通过显示单元显示待检测芯片的功耗；实现对待检测芯片的功耗检测，且电路简单，成本低，体积小，使用方便，适用性广泛。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片功耗测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122044581.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-27
授权号 ：
CN216248224U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
顾胜
申请人 ：
深圳市浩宇电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区松岗街道楼岗社区大洋工业区35号厂房4栋301
代理机构 ：
深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
高兰
优先权 ：
CN202122044581.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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