芯片管脚耦合电压测试系统
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，属于芯片管脚测试领域。所述芯片管脚耦合电压测试系统应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。本实用新型方案避免了进行芯片管脚电压测试时被耦合电压影响的问题，提高了管脚电压测试准确性。
基本信息
专利标题 ：
芯片管脚耦合电压测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220786316.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-04-07
授权号 ：
CN216485390U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
赵东艳王于波陈燕宁钟明琛李杰伟符荣杰
申请人 ：
北京芯可鉴科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层
代理机构 ：
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 ：
李红
优先权 ：
CN202220786316.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R19/00 G01R1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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