光子芯片测试系统光纤阵列微调装置及耦合装置
授权
摘要
本实用新型提供一种光子芯片测试系统光纤阵列微调装置，所述微调装置包括有垂直设置的第一角度调节机构与第二角度调节机构，所述微调装置可带动设置于所述微调装置上的光纤阵列在垂直的两个方向实现角度微调。本实用新型还提供一种光子芯片测试系统光纤阵列耦合装置，包括有微调装置以及与所述微调装置固定连接的位移台，位移台可实现对探针卡进行空间上三个方向的位置调整。基于以上各机构之间的相互配合，可使得光纤阵列良好的对准到芯片端面的光栅区间，从而使得测试过程更加稳定，结果更加准确。
基本信息
专利标题 ：
光子芯片测试系统光纤阵列微调装置及耦合装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020671372.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN212514884U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
李静婷赵复生赵俊洋
申请人 ：
天津蓝鳍科技有限公司;纤瑟（天津）新材料科技有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区开发区信环西路19号泰达服务外包产业园8号楼2层(天津滨海外包产业有限公司托管第3028号)
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
周庆路
优先权 ：
CN202020671372.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 H04B10/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
