复合式微调测试架
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摘要

本实用新型涉及线路板测试技术领域,特别涉及复合式微调测试架,下探针床包括第一层板,下探针设置于第一层板上表面,第一层板下方设置有第二层板,第二层板两侧对称设置有两微调平台,第二层板支撑固定于两微调平台上,微调平台可调整第二层板在水平面内前后左右移动,第二层板上设置有多根定位柱,第一层板上设置有多个定位孔,多根定位柱分别由下往上从多个定位孔穿出,线路板定位放置于多根定位柱上。与现有技术相比,本实用新型的复合式微调测试架可通过调节微调平台使得第二层板在水平面内移动,多根定位柱带动线路板在水平面内小幅度位移,直到测试点位置对准上探针和下探针,可有效降低测试过程中耗费的人工,提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
复合式微调测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021409107.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-15
授权号 :
CN212845767U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
邱勇涛
申请人 :
深圳加都佳电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区沙井街道后亭社区后亭第三工业区28号102
代理机构 :
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 :
谭雪婷
优先权 :
CN202021409107.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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