一种自动微调ICT功能测试治具
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动微调ICT功能测试治具，包括固定板和基座，基座的上端中部表面设有空腔，空腔的侧壁内设有第一限位槽，第一限位槽内安装有载板，载板的上端表面设有容置槽，载板的下端焊接有减震弹簧，减震弹簧的另一端与空腔的内部底端表面焊接。设置的载板和减震弹簧，解决了现有的ICT功能测试治具底部容置槽内固定放置电路板，当气缸带动探针向下移动过多时，会对探针和线路板造成伤害的问题，设置的卡环、软连接套和定位销，解决了现有的ICT功能测试治具对电路板进行检测时，表面无防尘装置，导致灰尘落在探针或电路板上，影响检测的精准度，影响ICT功能测试治具的正常使用的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种自动微调ICT功能测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921540160.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-12
授权号 ：
CN211236123U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
吴英芳
申请人 ：
深圳市强鑫远电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山区石井街道石井坪葵路262添富工业201号
代理机构 ：
北京棘龙知识产权代理有限公司
代理人 ：
聂颖
优先权 ：
CN201921540160.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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