本实用新型公开了一种半导体芯片测试用多重微调测试架，属于半导体芯片的测试领域，解决了现有测试架在多重微调过程中，很容易发生误碰已调节好的旋钮，导致最终的微调结果发生误差的问题；本方案包括测试架，测试架上安装有用于对半导体芯片进行承托的承托台，承托台的初始状态为水平布置，测试架上还安装有微调机构，微调机构用于对承托台的偏转角度进行多重微调且微调后，微调机构中的旋钮被限制保持静止不动。