本实用新型公开了一种半导体芯片测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的上端面固定连接有两个对称设置的固定板，两个所述固定板之间固定连接有横板，所述横板与测试座本体之间设有箱体，所述箱体内设有测试仪，所述横板上设有用于对箱体进行移动的移动机构，所述测试座本体的上端面开设有安装槽，所述安装槽内固定连接有两个对称设置的支撑板，多个所述支撑板之间设有用于对芯片进行输送的输送机构。本实用新型通过动力电机带着往复丝杠转动，从而使丝杠套带着箱体内的测试仪一边移动一边对芯片进行测试，提高工作效率，再通过对芯片进行翻转，使测试仪对芯片的另一面进行检测，减少人力资源使用的同时，提高本装置的实用性。