本实用新型提供一种半导体芯片测试座，包括底座、支杆、测试台和两组螺纹管，两组螺纹杆顶端分别与放置板底端左右两侧连接；还包括排风扇、温度传感器和多组电加热棒,覆盖板与放置板通过弹簧连接，覆盖板内设置有通槽，通过活动门控制其打开与闭合，排风扇和多组电加热棒均设置在通槽内，且排风扇和多组电加热棒位于通槽两侧；在测试座上的针穴的内壁覆盖着金属涂层，采用本芯片测试座，可以消除弹簧探针的针体外径与针穴之间的间隙，这样弹簧探针的针头与芯片针脚的错位可能性大为降低。