一种半导体芯片测试板卡
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片测试板卡,包括防护壳,所述防护壳中转动连接有丝杠,且丝杠上螺纹连接有与防护壳滑动连接的支撑座,所述防护壳上设置有与丝杠相配合的调节机构,所述支撑座上开设有放置槽,且放置槽中放置有板卡本体,所述放置槽上开设有驱动腔,且驱动腔中转动连接有两个螺母套,两个所述螺母套中均螺纹连接有螺杆,且螺杆贯穿支撑座设置。本实用新型涉及测试板卡技术领域,通过本实用新型的设计,使得板卡在放置时可以得到有效的防护,且在使用板卡时,可以对板卡进行有效的稳固,以避免人工扶持的繁琐,同时便于后期对板卡进行拆卸。

基本信息
专利标题 :
一种半导体芯片测试板卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122682876.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-04
授权号 :
CN216310200U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
郭飞陈宗廷朱放中
申请人 :
深圳市九章半导体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新安街道海滨社区N23区海天路15-1号卓越宝中时代广场一期A栋1804
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122682876.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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