本实用新型公开了一种用于半导体芯片测试的微调支架，包括底座、第一旋钮和第二旋钮，所述底座顶部设有第二箱体和固定块，所述底座一侧设有连接管，所述固定块内部设有第二滑槽，所述第二滑槽内部设有第二滑块，所述第二箱体内设有第二旋钮，所述第二旋钮贯穿第二箱体和固定块的连接面与第二滑块相连接，所述第二滑块远离滑槽的一端连接有第二连接板。本实用新型有益效果：第一旋钮顺时针方向转动，则可以使测试顶板往右微调，第一旋钮逆时针方向转动，则可以使测试顶板往左微调，第二旋钮顺时针方向转动，则可以使测试顶板往前微调，第二旋钮逆时针方向转动，则可以使测试顶板往后微调，可以使得测试顶板在平面上全方位微调。